Dans la course aux écrans de nouvelle génération, les micro-LEDs se démarquent comme des révolutionnaires. Mais tester ces minuscules sources lumineuses sans laisser de trace a été un problème—jusqu'à maintenant.
Une équipe de recherche de l'Université de Tianjin en Chine continentale a développé une matrice de sondes flexibles et tridimensionnelles qui s'adaptent aux collines et vallées microscopiques du wafer avec une pression aussi faible que 0,9 MPa—à peu près le souffle le plus doux que vous pouvez imaginer. Cette méthode de contact doux permet aux ingénieurs de réaliser des tests électriques rapides sans endommager la surface du wafer.
Les outils de test traditionnels agissent souvent comme des peignes rigides sur de la soie délicate, causant des dommages irréversibles, ou ils ratent complètement les défauts. En revanche, les nouvelles sondes exercent une force équivalente à un dix-millième de celle des aiguilles conventionnelles. « Cela préserve non seulement le wafer, mais maintient également les sondes en parfait état. Même après un million de contacts, elles paraissent toutes neuves, » déclare le professeur Huang Xian.
Pour que tout fonctionne, l'équipe a également construit un système de mesure personnalisé qui collabore avec les sondes flexibles pour surveiller la production en temps réel. Le résultat ? Des rendements supérieurs, moins de fausses alarmes, et une voie claire vers une fabrication rentable et à grande échelle de micro-LEDs.
De Dakar à Delhi et de Bogotá à Bangkok, les jeunes passionnés de technologie et entrepreneurs connaissent la valeur des écrans vibrants et économes en énergie. Cette percée pourrait alimenter tout, des téléphones pliables et des appareils intelligents portables à des panneaux d'affichage numériques géants à travers le Sud global.
Déjà en voie de commercialisation au Tiankai Higher Education Innovation Park, cette technique de test doux promet de stimuler la croissance de l'industrie des micro-LEDs en Chine continentale—et au-delà—tout en ouvrant des portes à de nouvelles innovations en électronique flexible.
Reference(s):
Researchers advance non-destructive testing of micro-LED wafers
cgtn.com
